МЕТОДИКА ПОИСКА НЕИСПРАВНОСТЕЙ.
4.1. Общие положения.
Этапы ремонта .
Процесс ремонта любого электронного устройства можно условно разбить на два этапа — установление причины неисправности и, непосредственно, её устранение.
Первый этап является не только самым трудоёмким, но и наиболее важным в процессе ремонта. В некоторых случаях неисправные элементы в электронных схемах видны невооруженным глазом. Их замена может привести к восстановлению работоспособности устройства, но, зачастую, сгоревший элемент является не причиной, а следствием возникшей неисправности. В этом случае, Вы будете удивлены, когда устраненная неисправность возникнет снова через некоторое время.
Установление причины отказа следует начинать с анализа ситуации, при которой возникла неисправность, в первую очередь, обращая внимание на симптомы, нехарактерные при нормальной работе устройства. Такими симптомами могут быть: посторонний фон, непериодические потрескивания, прослушиваемые во время разговора, произвольные обрывы связи, другие сбои в работе устройства.
Прежде чем приступать к ремонту телефонного аппарата — убедитесь, что неисправность кроется именно в нем, т. к. могут иметь место: авария АТС или обрыв телефонной линии. Для проверки включите в линию заведомо исправный телефонный аппарат.
Причины возникновения неисправностей .
Следует помнить, что неисправности в электронных устройствах могут возникнуть по следующим причинам.
- Неправильная эксплуатация. Это одна из самых распространенных причин отказов, Обычно, анализ нарушений правил эксплуатации подсказывает, где нужно искать неисправность.
- Несогласованность устройства с отечественными телефонными сетями. Исключить эту причину можно ещё при приобретении телефонного аппарата — поинтересуйтесь, сертифицировано ли данное устройство должным образом?
- Технологические ошибки производителя. В жесткой конкурентной борьбе производители стараются привлечь покупателей широким диапазоном сервисных функций. А это, в свою очередь, приводит к усложнению самого устройства. Кто может дать гарантию, что разработчики ничего не упустили? Опыт показывает обратное.
- Низкое качество электронных элементов. Может служить объяснением невысокой цены устройства.
- Воздействие внешних факторов. Я не имею в виду стихийные бедствия. Иногда, причиной возникновения неисправности может стать авария АТС или сети электропитания. Беспроводным устройствам может сильно повредить работа мощного излучающего устройства (радиостанции).
- Старение электронных компонентов. Оно может быть как естественным, так и вызванным перегревом элементов вследствие технологических недоработок или нарушений правил эксплуатации. При этом изменяются параметры элементов, что приводит к существенному ухудшению качества работы телефонного аппарата или к полному выходу его из строя. Поиск неисправностей, вызванных изменением параметров электронных элементов наиболее трудоемок, требует наличия специализированных измерительных приборов и высокой квалификации производящего ремонт.
Поэлементная проверка, согласно определению, заключается в тщательной проверке всех элементов схемы. Этот процесс наиболее длительный и требует кропотливой работы. Позволяет однозначно определить неисправные элементы. В чистом виде рекомендуется при ремонте устройства без принципиальной схемы.
Покаскадная проверка заключается в анализе входных и выходных сигналов каскадов схемы. Позволяет определить неисправный участок схемы. Предполагает обязательное наличие многофункционального источника сигнала и устройства анализа, например, генератора сигналов и осциллографа.
Метод сравнения предполагает наличие аналогичного, но исправного устройства. Заключается в сравнении статических и динамических параметров электронных компонентов двух устройств при одинаковых режимах работы. Метод довольно длительный и сложный. Рекомендуется при проведении ремонта без принципиальной схемы устройства.
Метод модульной замены также предполагает наличие исправного аналогичного устройства или его исправных блоков. Позволяет быстро определить неисправный модуль. Применяется в устройствах, построенных по модульному принципу.
Каждый из перечисленных методов эффективен только при выполнении определенных условий и, поэтому, практически никогда не применяется исключительно. Чаше всего применяется комбинированный метод, который, в зависимости от ситуации, совмещает в себе перечисленные методы в наиболее удобных комбинациях. Так, наиболее оптимальной была бы методика, включающая в себя внешний осмотр, анализ принципиальной схемы, покаскадную проверку выбранного участка и поэлементную проверку в пределах неисправного каскада схемы.
Поиск неисправностей
При внешнем осмотре схемы Вам может повезти, и Вы сразу увидите нарушения в схеме, места “холодной” пайки, обуглившиеся элементы. Реже можно увидеть дым или почувствовать перегрев. Эти симптомы однозначно указывают на неисправные элементы.
Все электронные устройства состоят из типовых компонентов. Они могут выглядеть по-разному — быть отдельно смонтированными на печатной плате в качестве стандартных или безкорпусных элементов, входить в состав микросхем или микросборок, но всегда будут иметь характерные для своего класса отказы.
Выход из строя полупроводниковых элементов (транзисторов, диодов, стабилитронов и т.д.) вызывается пробоем полупроводникового материала; в ряде случаев короткозамкнутые переходы выгорают, образуя обрывы между выводами элемента. Возможно также изменение химического состава полупроводникового перехода вследствие длительного воздействия высокой температуры — перегрева. Предварительно работоспособность дискретных полупроводниковых элементов можно проверить с помощью омметра, контролируя сопротивление переходов в прямом и обратном включении. При этом биполярный транзистор можно представить в виде двух встречно (p-n-р транзистор) или противоположно (n-p-п транзистор) включенных диодов, общим электродом которых будет выступать база транзистора.
Конденсаторы выходят из строя в результате пробоя, короткого замыкания или по другой причине потери изолирующих свойств диэлектрического материала. Изменения в химическом составе или геометрических соотношениях диэлектрического материала и, как следствие, изменение электрических параметров конденсаторов также вызывает нарушение работоспособности электронных схем. Работоспособность конденсаторов проверяют с помощью измерителя емкости, проверяя на соответствие действительной емкости номиналу. Грубо конденсатор можно проверить на отсутствие пробоя или способность накопления заряда с помощью омметра.
Отказы резисторов связаны с разрывами резистивного слоя, пробоями или потерей электрических контактов выводов. Работоспособность резисторов контролируется омметром.
Элементы индуктивности чаще страдают от обрывов обмоток или короткозамкнутых витков. Различные механические нагрузки и перепады температуры окружающей среды вызывают изменения частотных параметров катушек индуктивности.
Наиболее тяжелыми в определении являются отказы электронных компонентов, связанные с частичным отклонением параметров, вызванных перегревом, механическим повреждением, естественным старением элементов. Для выявления подобных отказов Вам понадобятся специализированные измерительные приборы (испытатель диодов, транзисторов, измеритель L, C).
|
